高低溫四探針測試系統(tǒng)
一、高溫四探針儀器簡介：
HCTZ-300 型四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
儀器優(yōu)點；
偏差1/60，抗干擾性能提高300倍
16mm 大口徑三軸連接器 電流輸入端口采用大口徑三軸連接器，是將內部屏蔽連接至 GUARD(COM) 線，外部屏蔽連接至 GROUND 的 3 層同軸設計。 兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時的**性。
HC浮動電路與三軸連接器組合使用可有效增強對電源干擾或外來干擾的穩(wěn)定性(重復精度)大幅提升。普通的使用環(huán)境的偏差為0.007%(代表值)與以往機型相比減少至1/60，在摻雜50V突發(fā)干擾的條件下減少至1/300。
技術參數(shù)如下：
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測量范圍 |
電阻率：10-5～105 ?.cm(可擴展)； 方塊電阻：10-4～106 ?/□(可擴展)； 電導率：10-5～105 s/cm； 電阻：10-5～105 ?；
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可測晶片直徑 |
140mmX150mm(配 S-2A 型測試臺)； 200mmX200mm(配 S-2B 型測試臺)； 400mmX500mm(配 S-2C 型測試臺)
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恒流源
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電流量程分為 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六檔，各檔電流連續(xù)可調
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數(shù)字電壓表
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量程及表示形式 000.00～199.99 mV； 分辨率：10μV； 輸入阻抗＞1000M?； 精度：±0.1% ； 顯示：液晶屏；極性、超量程自動顯示； |
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四探針探頭基本指標
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間距：1±0.01mm； 針間絕緣電阻：≥1000M?； 機械游移率：≤0.3％； 探針：碳化鎢或高速鋼 Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)
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四探針探頭應用參數(shù)
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(見探頭附帶的合格證)
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模擬電阻測量相對誤差 ( 按 JJG508-87 進行)
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0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?≤0.3％±1 字
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整機測量*大相對誤差
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(用硅標樣片:0.01-180?.cm 測試) ≤±5％ |
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整機測量標準不確定度
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≤3％
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測試模式
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可連接電腦測試也可不連接電腦測試。
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軟件功能（選配）
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軟件可記錄、保存、打印每一點的測試數(shù)據(jù)，并統(tǒng)計分析測試數(shù)據(jù)*大值、 *小值、平均值、*大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖，也可把測試數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中，對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動測量功能，根據(jù)樣品電阻大小自動選擇適合電流量程檔測試
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計算機通訊接口
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并口，高速并行采集數(shù)據(jù)，連接電腦使用時采集數(shù)據(jù)到電腦的時間只需要 1.5 秒（在 10uA,0.1mA、1mA、10mA、100mA 量程檔時）。
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標準使用環(huán)境
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溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65％； 無高頻干擾； 無強光直射；
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二、HCTZ-300 型四探針軟件測試系統(tǒng)
HCTZ-300 型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。
